Universiti Teknologi Malaysia Institutional Repository

Analisis struktur saput tipis aloi eutektik SnSe-SnSe2

D. Hutagalung, Sabar and Sakrani, Samsudi and Wahab, Yusof (1996) Analisis struktur saput tipis aloi eutektik SnSe-SnSe2. Buletin Sains & Teknologi Keadaan Pepejal Malaysia, 6 (2). pp. 1-7. ISSN 0128-5637

[img] PDF
1757Kb

Abstract

Timah selenida (SnSe) dan timah diselenida (SnSe2) adalah bahan semikonduktor sebatian kumpulan IV-VI jadual berkala. Saput tipis aloi eutektik SnSe-SnSe2 disediakan secara penselenidan tertudung-tebat yang meliputi dua proses iaitu penyediaan lapisan Sn/Se dengan penyejatan vakum dan penyepuhlindapan. Analisis struktur saput dilakukan dengan kajian XRD, XRF dan SEM. Eutektik terjadi pada saput yang disediakan dengan nisbah ketebalan Sn/Se = 1:2, disepuh lindap 200 oC selama 3, 6 dan 9 jam. Daripada kajian XRD diperolehi enam puncak belauan SnSe iaitu (031), (600), (011), (002), (511) dan (203) dan tiga puncak SnSe2 iaitu (001), (101) dan (003) pada sampel yang disepuh lindap selama 6 jam (masa optimum). Kajian XRF terhadap saput ini menunjukkan peratus berat atom elemen Sn = 71.8 % dan Se = 28.2 %, manakala saiz butiran yang dikira daripada mikrograf SEM lebih 0.85 µm.

Item Type:Article
Uncontrolled Keywords:thin film, structur analysis, semiconductor compounds, tin selenide (SnSe), tin diselenide (SnSe2)
Subjects:Q Science > QC Physics
Divisions:Science
ID Code:2519
Deposited By: Samsudi Sakrani
Deposited On:11 Apr 2008 03:51
Last Modified:01 Jun 2010 03:03

Repository Staff Only: item control page